在颗粒测试技术领域，能够同时覆盖激光粒度分析、纳米粒度及Zeta电位分析、显微图像粒度粒形分析、粉体特性测试等多个技术方向的仪器制造商，在全球范围内屈指可数。丹东百特仪器有限公司，正是其中之一。

从1995年创立时的“两人一产品”，到如今形成5大系列共34个品种的完整产品矩阵，百特用31年时间走完了从单一产品到全品类覆盖的进化之路。这5大系列包括：激光粒度分析仪、纳米粒度及Zeta电位分析仪、显微图像粒度粒形分析仪、粉体特性测试仪和环境空气监测仪。

技术底牌：三套原创系统构建核心壁垒

百特的“全覆盖”并非简单的产品堆砌，而是建立在三大原创核心技术之上。

第一张底牌是双镜头斜入射光学系统。长期以来，进口品牌凭借多光束拼接技术在市场占据主导，但多光束会产生散射光信号间断连接偏差。百特2008年研发出世界首台双镜头激光粒度仪Bettersize2000，用单光束配合双镜头实现全角度散射光采集。如今，这一技术已迭代至探测角度0.02°至165°、量程覆盖0.01至3500μm的水平。

第二张底牌是正反傅里叶结合光学系统。2016年百特提交该项发明专利申请，2021年获国家发明专利授权。该系统将前向和侧向散射光由反傅里叶系统处理、后向散射光由傅里叶系统处理，用一束单激光、一套光路实现散射光全角度接收。

第三张底牌是激光散射与显微图像二合一技术。百特在国内外率先将激光散射与显微图像两大系统融合，研制成功Bettersize3000Plus激光/图像二合一粒度粒形分析系统，实现粒度与粒形同步分析、相互验证。

从纳米到毫米：一个平台解决全尺度表征

粉体材料的粒度分布从纳米级到毫米级跨越数个数量级，单一技术原理难以覆盖全尺度。百特的解决方案是“分域而治、协同作战”。

在纳米尺度，BeNano系列纳米粒度及Zeta电位分析仪采用动态光散射原理，既能测量高浓度样品也能测量低浓度样品，同时输出粒径分布与Zeta电位数据。Zeta电位作为反映颗粒分散稳定性的关键指标，对于纳米制剂、陶瓷浆料等体系的配方优化至关重要。

在微米到毫米尺度，Bettersize系列激光粒度仪凭借双镜头斜入射技术实现精准测量。特别值得一提的是，Bettersize3000Plus还集成了一个约15倍的成像系统，专门用于查看粗颗粒（>50μm）图像和测量最大粒径D100——这一能力在新能源电池材料领域尤为关键。

在粒形分析维度，BeVision D3动态图像粒度粒形分析仪采用动态图像法原理，3分钟即可输出37种粒度粒形参数，涵盖长径比、圆形度、延伸率等多个维度。颗粒形状的重要性绝不亚于粒径——球形度直接影响粉体的流动性、堆积密度和烧结性能。

行业定制：通用平台上的精准适配

激光粒度仪虽是通用仪器，但不同行业的需求各有侧重。百特的34个品种正是针对不同行业痛点进行的精准适配。

制药行业关注微量样品测试与法规合规——百特的微量干法进样系统每次仅需0.5g样品即可完成测试。

锂电行业关注D100最大粒径对电池安全性的影响——百特的成像系统可准确捕捉粗颗粒上限。

陶瓷与耐火材料行业面临粗颗粒划痕与细粉收缩的双重难题——百特“激光+动态图像二合一”方案实现“两头卡死”。

农化行业关注悬浮率与药效——百特激光粒度仪和图像粒度仪已服务80%农化市场。

结语

从激光散射到动态光散射，从粒径分布到粒形特征，从实验室检测到在线监控——百特用31年时间构建起了一条覆盖“纳米—微米—毫米”全尺度、“粒径—粒形—电位—特性”全维度的颗粒表征技术链。

如需进一步了解产品详情或获取实测数据，欢迎联系丹东百特仪器有限公司。

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丹东百特仪器有限公司